熱門搜索：
P760/01_2760nm單模垂直腔面發射激光器
VCSEL-20-M激光控制驅動器
ZNSP25.4-1IR拋光硫化鋅(ZnS)多光譜(透明)窗片 0.37-13.5um 25.4X1.0mm（晶體/棱鏡
Frequad-W-CW DUV 單頻連續激光器 213nm 10mW Frequad-W
HB-C0BFAS0832x4 QPSK C波段相干混頻器（信號解調/鎖相放大器等）
CO2激光光譜分析儀
ER40-6/125截止波長1300nm 高摻雜EDF摻鉺光纖
THL-ZnTe20-500RZNTE（碲化鋅）太赫茲晶體
GD5210Y-2-2-TO46905nm 硅雪崩光電二極管 400-1100nm
SNA-4-FC-UPC日本精工法蘭FC/UPC（連接器/光纖束/光纜）
1030nm超短脈沖種子激光器PS-PSL-1030
IRV2000-1X350-2000nm 1倍紅外觀察鏡
NANOFIBER-400-9-SA干涉型單模微納光纖傳感器 1270-2000nm
高能激光光譜光束組合的光柵 （色散勻化片）
FLEX-BF裸光纖研磨機
S+C+L波段 160nm可調諧帶通濾波器
當前位置：首頁
產品中心光纖/光纖器件/光纖處理光纖研磨拋光/切割剝離器ProView™ LD 光纖端面質量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于光纖支架)（光纖研磨拋光/切割剝離器）
ProView™ LD 光纖端面質量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于光纖支架)（光纖研磨拋光/切割剝離器）
產品簡介
product
產品分類| 品牌 | 筱曉光子 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 組件類別 | 其他 | 應用領域 | 電子/電池,電氣,綜合 |
ProView™ LD 光纖端面質量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于光纖支架)（光纖研磨拋光/切割剝離器）
ProView LD是一款高度先進的干涉儀，用于精確測量和檢查直徑為125至720µm的光纖端面。干涉儀是專門為生產線設計的，在生產線中需要簡單、快速和非常準確的端面檢測。但ProView LD也非常適合研發環境和光纖切割機維護目的。在許多情況下，干涉條紋圖案可以非常復雜地進行分析和理解。為了便于使用和優化檢查速度，ProView LD包括高度先進的全自動功能，用于端面表面的2D和3D地形分析。該軟件自動指示端面的角度、平面度和坡度方向。為了進一步簡化檢查過程，ProView LD可以設置為“通過/未通過"模式。此功能允許操作員通過圖像上的顏色代碼簡單地確定端面質量。除了劈裂角檢查外，ProView LD還可用于測量其他一些特性，如光纖直徑和定義點之間的距離等。ProView LD–用于光纖支架，配有通用v形槽夾具組件，可容納FITEL或Fujikura的標準光纖支架，但也允許使用裸光纖。還有可選的支架可用于檢查標準SMA、FC/PC、ST/PC或LD80連接器。可根據要求提供定制夾具或適配器。ProView LD設計緊湊，是生產臺的理想選擇，可與切割機、熔接機和其他準備工具并排使用。ProView LD通過USB 3.0電纜連接并通電，由外部PC（不包括在內）托管。
ProView™ LD 光纖端面質量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于光纖支架)（光纖研磨拋光/切割剝離器）
上一個：
返回列表
